UV电子灌封高温老化开裂、失效?耐老化低应力模组怎么适配老化测试
一、先说客户真实碰到的事
做UV电子灌封、元器件封装的厂子,常碰到这个麻烦。灌封固化完看着挺好,进高温老化箱跑一轮,出现了裂纹,器件失效。研发加功率想让灌封更实,可应力更大,老化一冲就裂。产线良率被老化开裂拖着,售后退一批一批的。
二、为什么这道活难做
电子灌封这道活,难点在固化要实、应力要小。
1. 应力大。灯珠功率给太满,灌封表层固化快、收缩大,内部拉出应力,老化一热就裂。
2. 固化不均。辐照不均,局部固化过头局部不足,界面结合弱。
3. 热冲击。老化箱温度跳变,残留应力释放,裂纹从薄弱点起。
4. 只按标称推。用标称功率倒推固化,没算应力和热冲击,实际老化状态对不上。
三、台宏这边能给到什么
– 5050 UVA LED,365nm,单颗一瓦,用于UV固化
– 3535灯珠模组,陶瓷紫光UVA加UVC复合,支持个性化定制
– UV模组,265到280nm,紫外理疗PCB与便携式杀菌模组
陶瓷基板导热稳,出光一致,灌封固化靠的是低应力均匀固化,让灌封从里到外一致,不留应力尾巴。耐老化要好,得把剂量配到刚好固实又不生应力。有做元器件封装的客户,老化一跑就裂,查下来是局部过固生应力,后来降剂量配匀光,老化通过率上来了。这说明灌封先降应力,再谈固实。
四、你现在能做的几步
第一步,先量实际强度。在灌封面和内部用UV辐照计测,看匀不匀、透不透。
第二步,控应力。按灌封厚度和光引发剂特性把剂量配到刚好固实,别把表层推到过固生应力。剂量窗口以你材料的实测为准。
第三步,匀光。灯排做到辐照均匀,别让局部固化过头。
第四步,锁波长和规格。确认落在365nm固化段,确认同批次一致性数据满足你的老化要求。
第五步,看残应。固化后用偏光或应力片看残余应力,应力高就降剂量配匀光再试。
第六步,小批热冲。按你的老化条件先小批跑热冲击,一裂就回头调剂量和均匀度,别直接上量。
第七步,记老化曲线。把每次老化的温度、应力和通过情况记成曲线,下次换料直接对照调剂量和均匀度,别凭记忆估。
五、验证方法这块别省
灌封的耐老化和开裂要在你的材料和器件上实测,老化后不开裂的判定以实测为准。把灌封厚度、基材和老化条件发来,按打样确认工艺窗口,别只看标称。应力状态要和固化度一起看。
六、样品与选型
台宏做特种灯珠TO B定制,这块可以按你的灯排尺寸、走速和工艺要求反推选型和剂量方案,也接非标模组。要参数表或样品,把灯排尺寸、走速、基材和工艺标准发过来,我们按这个反算配置,不合适会直说。
灌封老开裂?把你的灌封厚度、走速和老化标准发给我们,台宏免费帮你反算一遍低应力剂量账,看看是过固问题还是均匀问题。发来时把基材和老化条件一起带上,我们连应力一起算,结论按你实测结构给,不合适的我们直接说不合适,不绕弯子。
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